Скануючий тунельний мікроскоп

Скануючий тунельний мікроскоп, також відомий як скануючий тунельний мікроскоп або тунельний скануючий мікроскоп, — це прилад, який використовує ефект тунелювання в квантовій теорії для виявлення структури поверхні речовин. Він був винайдений у 1981 році Г. Біннінгом і Х. Рорером у цюріхській лабораторії IBM у Цюріху, Швейцарія, і обидва винахідники розділили Нобелівську премію з фізики 1986 року з Ернстом Руска.
Як інструмент скануючої зондової мікроскопії, скануюча тунельна мікроскопія дозволяє вченим спостерігати та знаходити окремі атоми, і вона має вищу роздільну здатність, ніж аналоги в атомно-силовій мікроскопії. Крім того, скануюча тунельна мікроскопія може точно маніпулювати атомами при низьких температурах (4K) за допомогою наконечників зонда, що робить її важливим інструментом вимірювання та обробки в нанотехнологіях.
STM дозволяє людям вперше спостерігати розташування окремих атомів на поверхні матерії в реальному часі та фізико-хімічні властивості, пов’язані з поведінкою поверхневих електронів. Він має значне значення та широкі перспективи застосування в дослідженнях у галузі науки про поверхню, матеріалознавства, науки про життя та інших галузях, і визнаний міжнародним науковим співтовариством одним із десяти найкращих технологічних досягнень у світі 1980-х років.